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光學(xué)影像測量儀憑借其通用性強(qiáng)、測量范圍大、精度高、性能好、實(shí)時(shí)性強(qiáng)等優(yōu)勢得到廣泛應(yīng)用，是基于圖像分析、識別來進(jìn)行測量的高效率新型精密測量儀器。然而，即使是精密測量儀器，光學(xué)影像測量儀也會有誤差。知己知彼無煩惱，有誤差不用怕，知其緣由能避免才是重點(diǎn)！今天，廣東微米測量的小編就為大家?guī)砉鈱W(xué)影像測量儀測量誤差分析，正在找影像儀、有精密尺寸測量需求的朋友不妨花幾分鐘看一看。

       造成光學(xué)影像測量儀測量誤差的原因是多方面的，具體說來，在影像儀的設(shè)計(jì)、制造和使用的各個(gè)階段，都可能產(chǎn)生誤差，分別稱為測量儀的原理誤差、制造誤差、運(yùn)行誤差。

1、原理誤差

       如CCD攝像頭畸變產(chǎn)生的誤差、測量方法不同而產(chǎn)生的誤差，都屬于影像測量儀的原理誤差。

       由于攝像機(jī)制造和工藝等原因，以及入射光線在通過各個(gè)透鏡時(shí)的折射誤差和CCD點(diǎn)陣位置誤差等，實(shí)際的光學(xué)系統(tǒng)存在著非線性幾何失真，使得目標(biāo)像點(diǎn)與理論像點(diǎn)之間存在多種類型的幾何畸變：徑向畸變、偏心畸變、薄棱鏡畸變等。使用高質(zhì)量鏡頭可以減少畸變誤差的影響，但在精密測量中需要考慮到畸變的影響對測量結(jié)果進(jìn)行修正。

       測量方法不同而產(chǎn)生的誤差主要指不同圖像處理技術(shù)帶來的識別、量化誤差。在圖像處理的過程中需要進(jìn)行邊緣提取，而數(shù)字圖像處理技術(shù)中邊緣提取有很多不同的方法，選用不同的提取方法會對同一個(gè)被測件的邊緣位置產(chǎn)生不小的變化，因此會對最后的測量結(jié)果產(chǎn)生影響。如測量某一圓形工件的半徑和圓心的時(shí)候，當(dāng)圓的輪廓發(fā)生變化時(shí)，它的半徑值和圓心位置就會相應(yīng)的發(fā)生變化。由此可知，在圖像處理的過程中圖像處理算法對儀器的測量精度有著十分重要的影響，是影像測量所關(guān)注的焦點(diǎn)問題。

2、制造誤差

       如導(dǎo)向機(jī)構(gòu)產(chǎn)生的誤差、安裝誤差等，屬于影像測量儀的制造誤差。

       導(dǎo)向機(jī)構(gòu)產(chǎn)生的誤差對影像測量儀來說主要是機(jī)構(gòu)誤差中的直線運(yùn)動定位誤差。影像測量儀是正交坐標(biāo)系測量儀器。正交坐標(biāo)系測量儀有3根相互垂直的軸線即X、Y、Z三軸，有3個(gè)運(yùn)動部件沿這三根軸線運(yùn)動，使CCD相對于被測工件作三維直線運(yùn)動。選用高質(zhì)量的運(yùn)動導(dǎo)向機(jī)構(gòu)可以減少此類誤差的影響。

       安裝誤差則主要在于攝像機(jī)與工作臺面之間的相對關(guān)系。當(dāng)測量平臺與CCD攝像機(jī)的鏡頭呈現(xiàn)出一定的角度H時(shí)，根據(jù)幾何學(xué)的知識可以得到誤差計(jì)算式如下：D=L(1-cosH)。如果影像測量儀的測量平臺水平性能以及CCD攝像機(jī)的安裝十分出色，它們之間的夾角都在范圍以內(nèi)，此誤差非常小。

3、運(yùn)行誤差

       測量環(huán)境和條件變化引起的誤差(如溫度變化、電壓波動、照明條件變化、機(jī)構(gòu)磨損等)，以及動態(tài)誤差，都屬于光學(xué)影像測量儀運(yùn)行誤差。測量運(yùn)行條件的改善可以有效地減少此類誤差。

       溫度的改變，會使影像測量儀的零部件尺寸、形狀、相互位置關(guān)系以及一些重要的特性參數(shù)發(fā)生變化，從而影響儀器的精度。溫度的變化還可能引起電器參數(shù)的改變以及儀器特性的改變，引起溫度靈敏度漂移和溫度零點(diǎn)漂移。

       電壓及照明條件的變化會影響到影像測量儀的上、下光源燈的亮度，造成系統(tǒng)光照不均，從而使得在采集圖像邊緣時(shí)留下陰影、造成圖像邊緣提取誤差。

       磨損使光學(xué)影像測量儀的零件產(chǎn)生尺寸、形狀、位置誤差，配合間隙增加，會降低儀器的工作精度的穩(wěn)定性。

       以上就是光學(xué)影像測量儀測量誤差分析。了解了誤差緣由并采取相應(yīng)措施，便能有效避免、減少誤差，得到更精準(zhǔn)的測量數(shù)據(jù)。